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                                位置:51电子网 » 技术资料 » 无线通信
                                记录内容包括被试器件数2019/5/24 19:47:31
                                如果在玻璃钝化层区域(例如,键合区、芯片边沿、划片线等)边沿之外的任何地方出现铝层腐蚀的情况(见图4-147~图4-153),该批器件就应拒收。GAL16V8D-10LJNI这一?#33455;?#21482;适用于电流...[全文]
                                应通过物理横截剖面方法或采用测试结构验证台阶覆盖百分比2019/5/23 20:54:44
                                如果任何几种缺陷(见图4-141)的共同作用或由于金属化层的变薄使主载流方向横截面上金属条横截面的面积减少了50%以上,该钝化层台阶上的金属化层不应接收。当下述(l)~(3)条件得...[全文]
                                腐蚀检查程序2019/5/23 20:49:44
                                ●腐蚀检查程序:包括采用合适的腐蚀剂,通过选择性腐蚀方式,每次只腐蚀掉一种金属层。GAL20V8B-10LJI经过逐层腐蚀,可实现对每一层的检查。一般情况是按顺序逐层去除一种金属层,暴露出其下面...[全文]
                                需要样品数很大的统计抽样技术在这里是不实用的2019/5/23 20:25:32
                                需要样品数很大的统计抽样技术在这里是不实用的。表⒋18中规定的晶圆取样要求以及在样品晶圆中规定的特定芯片位置可在保证整体试验置信度的同时,G5V-2-DC5V使试验样品减少至最少。这些芯片代表了...[全文]
                                芯片剪切强度失效分析 2019/5/23 19:56:35
                                芯片剪切强度失效分析经芯片剪切强度试验后,芯片的G07007SB-UAQX01脱离大致有三种现象,即芯片被剪切时剥离,在基座上有残留硅碎片的痕迹;芯片从芯片焊接材料上...[全文]
                                要使元器件研磨面具有较高的光洁度以便于在光学显微镜下观察2019/5/22 21:45:04
                                固化。浇铸之后,将样品环放置在室温下使其充分固化。最好不要加热?#22270;?#21387;,以免元器件内部产生有害应力。研磨。要使元器P0300SCMCLRP件研磨面具有较高的光洁度以便于在光学显微镜下...[全文]
                                电磁继电器2019/5/21 21:02:54
                                电磁继电器电磁继电器的示意图如图4.84~图⒋86所示。图⒋85平衡旋转?#36739;?#38081;结构密封电磁继电器图⒋86平衡力式密封电磁继电器电磁继电器的开封方法如下:电磁继电器应拍...[全文]
                                金属化塑料膜介质电容的开封如下2019/5/20 21:46:54
                                金属化塑料膜介质电容的开封如下:(1)圆柱形金属外壳密封的电容器。在外壳两端靠近端部进行两次圆周切割,再进行TPD12S016PWR一次纵向切割,打开外壳,取出芯组。...[全文]
                                对BGA?#30422;?#30340;缺陷检查2019/5/17 21:00:45
                                对BGA?#30422;?#30340;缺陷检查由于焊点中含有可以大量吸收X射线的铅,因此,与穿过玻璃纤维铜硅等其他材料的X射线相比,照射在焊点上的X射线被大量吸收,而呈黑点产生良好图像,使得对焊点的分析变...[全文]
                                常用于检测产品的无损探伤技术主要有X射线?#32479;?#22768;2019/5/16 21:06:25
                                本检查主要是用非破坏性的方法检测封装口及封装内的缺陷,特别是密封工艺引起的缺陷和诸如多余物、错误的内引线连接、芯片?#38454;?#26448;料中的或采用玻璃密封时玻璃中的空洞等内部缺陷。对样?#26041;?#34892;X射线检查,ACF...[全文]
                                空间单粒子效应通常采用地面高能粒子加速器进行地面模拟实验2019/5/15 20:41:47
                                空间单粒子效应通常采用地面高能粒子加速器进行地面模拟实验,随着器件敏感性增加且封装形式越来越复杂,需要采用高能重离子和质子进行辐照试验。未来可利用高能重离子,进?#24515;?#37327;衰减获得不同LET值的粒子,...[全文]
                                DC/DC单粒子效应试验方法2019/5/15 20:28:10
                                DC/DC单粒子效应试验方法DαDC器件的单粒子效应主要有两种:单粒子GAL22V10D瞬态和单粒子功能失效。DC/DC器件的单粒子瞬态指的是入射粒子引起DσDC出现输出电压瞬时跳...[全文]
                                动态测试模式2019/5/15 20:26:33
                                动态测试模式在动态测试模?#36739;?单粒子辐照试验过程中,器件将周期性地进行图形的写入、等待、读出比较的操作过程,错误在读过程中被发现,在写过程中被纠正。...[全文]
                                航天器入轨后运行在宇宙空间的高真空环境中2019/5/13 21:02:43
                                航天器入轨后运行在宇宙空间的高真空环境中,辐射成为换热的主导方式,气体的IC1720-F100TQG传导和对流热效应已经可以忽略。由于这与地面大气环?#31243;?#20214;下的换热方式有很大的不同,在大气环?#31243;?#20214;...[全文]
                                在可能出现温度对试验样品性能产生限制性影响的部位安装传感器2019/5/12 17:45:14
                                在可能出现温度对试验样品性能产生限制性影响的部位安装传感器,以测景接触温度。HC240F1020步骤一a(仅适用于设备等级l和2)在试验样品不接通电源或其他动力源的情况下,调整试验箱内的温度到表...[全文]
                                利用尘注入系统获得均匀的尘是困难的2019/5/12 17:10:13
                                ①经验表明,为了使尘均匀地覆盖在试件的上面,试验区域的面积要足够大,最好采用水平面积至少两倍于试件面积的试验区域。利用尘注入系统获得均匀的尘是困难的。采用的试验区域的高度要足以保证能将试件周围的...[全文]
                                试验前需要的信息2019/5/12 17:05:52
                                试验前需要的信息一般信息见H27UBG8T2BTR-BC中的38,特殊信息如下:(1)试验温度;H27UBG8T2BTR-BC(2)相对湿度;...[全文]
                                要模拟坠撞时大加速度条件下的功能适应性试验2019/5/9 21:34:38
                                坠撞安全试验。坠撞安全试验主要验证产品在坠?#24067;?#36895;度作用下不会破裂或不从固定架上脱落。在运载工具紧急着陆、刹车状态?#34987;?#20135;生大?#39034;?#36807;正常使用时的恒加速度数值。由于产品本身的功用不同,其可靠度要求不同...[全文]
                                随机振动试验的容差由两部分组成2019/5/8 21:06:47
                                容差的设置。随机振动试验的容差由两部分组成,即谱形的容差和均方根加速度的容差。J2S-Q01A-B前者是控制谱形的,后者是控制总能量的。而设置的容差又分为报警限和终止限,试验中控制谱或均方根加速...[全文]
                                确定设计目标参数2019/5/7 20:56:17
                                ?#33455;?#35774;计步骤。①确定设计目标参数。根据受INA105KU/2K5试产?#20998;?#37327;、体积、外形特点和试验的种类确定?#33455;?#30340;基本要求。②确定外形尺寸。应在确保?#33455;?#36136;量最小情况下,...[全文]
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                                                              上海快三走势图

                                                                <output id="1sjdp"><ins id="1sjdp"></ins></output>

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